ઇલેક્ટ્રોનિક સ્તરોના સિદ્ધાંત અને ઉપયોગને સમજવું

ઉચ્ચ-ચોકસાઇવાળા ઉત્પાદન અને મેટ્રોલોજીના કઠોર વિશ્વમાં, સંપૂર્ણ આડી ગોઠવણી પ્રાપ્ત કરવી એ કોઈ વાટાઘાટો નથી. જ્યારે સબ-આર્કસેકન્ડ ચોકસાઈની જરૂર હોય ત્યારે પરંપરાગત બબલ સ્તર ઘણીવાર ઓછા પડી જાય છે. આ તે સ્થાન છે જ્યાં ઇલેક્ટ્રોનિક સ્તર, એક અદ્યતન માપન સાધન, એક આવશ્યક સાધન બની જાય છે. તે અસાધારણ વફાદારી સાથે નાના ખૂણા અને નમેલા માપવાની અજોડ ક્ષમતા પ્રદાન કરે છે, જે સૌથી અત્યાધુનિક મશીનરી અને ટૂલિંગની ભૌમિતિક ચોકસાઈ ચકાસવામાં મહત્વપૂર્ણ ભૂમિકા ભજવે છે.

ઇલેક્ટ્રોનિક સ્તરો પાછળનું બુદ્ધિશાળી ભૌતિકશાસ્ત્ર

ઇલેક્ટ્રોનિક સ્તરો મુખ્યત્વે બે અત્યંત સંવેદનશીલ ભૌતિક સિદ્ધાંતો દ્વારા કાર્ય કરે છે: ઇન્ડક્ટન્સ સિદ્ધાંત અને કેપેસીટન્સ સિદ્ધાંત. તેમની ડિઝાઇનના આધારે, આ સાધનો એક પરિમાણ (1D) અથવા બે પરિમાણ (2D) માં ઝુકાવને માપી શકે છે.

ઇન્ડક્ટિવ ઇલેક્ટ્રોનિક સ્તર ચુંબકીય પ્રવાહમાં ફેરફાર પર આધાર રાખે છે. જ્યારે માપવામાં આવતી વર્કપીસના ઝોકને કારણે સાધનનો આધાર ઝુકે છે, ત્યારે આંતરિક લોલક અથવા સંવેદનશીલ સમૂહ તેની સ્થિતિ બદલી નાખે છે. આ ગતિ નજીકના ઇન્ડક્શન કોઇલમાં અનુરૂપ વોલ્ટેજ ફેરફારને પ્રેરિત કરે છે. આ વોલ્ટેજ ફેરફારની તીવ્રતા સીધી ઝુકાવના ખૂણામાં અનુવાદિત થાય છે.

તેનાથી વિપરીત, કેપેસિટીવ ઇલેક્ટ્રોનિક સ્તર વિદ્યુત કેપેસિટીન્સમાં ફેરફારનો ઉપયોગ કરે છે. તેના મૂળમાં એક ગોળાકાર લોલક છે જે એક પાતળા વાયર દ્વારા મુક્તપણે લટકાવવામાં આવે છે, જે ગુરુત્વાકર્ષણના પ્રભાવ હેઠળ ઘર્ષણ રહિત સ્થિતિમાં અસરકારક રીતે કાર્ય કરે છે. ઇલેક્ટ્રોડ્સ આ લોલકની બંને બાજુએ સ્થિત છે. જ્યારે સ્તર સંપૂર્ણપણે આડું હોય છે, ત્યારે બંને બાજુ હવાનું અંતર સમાન હોય છે, જેના પરિણામે સમાન કેપેસિટીન્સ મૂલ્યો બને છે. જ્યારે સ્તર નમેલું હોય છે, ત્યારે વર્કપીસથી પ્રભાવિત થાય છે, ત્યારે લોલક બદલાય છે, જેના કારણે ગેપ અંતર અસમાન બને છે. અંતરમાં આ ફેરફાર કેપેસિટીન્સમાં માપી શકાય તેવા તફાવતમાં પરિણમે છે, જે પછી ચોક્કસ રીતે કોણીય માપમાં રૂપાંતરિત થાય છે.

ઉચ્ચ-ચોકસાઈ ટૂલિંગમાં એપ્લિકેશનો

ઉચ્ચ-ચોકસાઇવાળા મશીન ટૂલ્સ અને માપન સાધનોની સપાટતા અને ગોઠવણી ચકાસવા માટે ઇલેક્ટ્રોનિક સ્તર અનિવાર્ય છે. તેની અત્યંત સંવેદનશીલતાને કારણે, આ ઉપકરણ એકંદર સિસ્ટમ કામગીરી માટે મહત્વપૂર્ણ નાના વિચલનો શોધી શકે છે. તે નિયમિતપણે NC લેથ્સ, મિલિંગ મશીનો, કટીંગ સેન્ટર્સ અને કોઓર્ડિનેટ મેઝરિંગ મશીન્સ (CMMs) જેવી અદ્યતન મશીનરીની પાયાની સપાટીને માપવા માટે ઉપયોગમાં લેવાય છે. તેના ઉચ્ચ રીઝોલ્યુશનનો અર્થ એ છે કે, મર્યાદિત માપન શ્રેણી સાથે પણ - ઘણીવાર ± 25 સ્કેલ ડિવિઝનની હિલચાલને મંજૂરી આપવા માટે ગણતરી કરવામાં આવે છે - ઉપકરણ ઝોકની ચુસ્ત અને ચોક્કસ શ્રેણીમાં સચોટ માપન પ્રદાન કરી શકે છે, જે મશીન સેટઅપની અખંડિતતાની ખાતરી આપે છે.

ફ્લેટનેસ વેરિફિકેશનમાં ભૂમિકા: સ્ક્રેપ્ડ સરફેસ પ્લેટ

ઇલેક્ટ્રોનિક સ્તરનો એક ખાસ કરીને શક્તિશાળી ઉપયોગ એ ઉચ્ચ-ચોકસાઇ સંદર્ભ સપાટીઓનું નિરીક્ષણ છે, જેમ કે સ્ક્રેપ્ડ ગ્રેનાઈટ અથવા કાસ્ટ આયર્ન સપાટી પ્લેટો. ઇલેક્ટ્રોનિક સ્તર સપાટીની સપાટતાનું મૂલ્યાંકન કરવા માટે એક સરળ, છતાં ખૂબ જ સચોટ પદ્ધતિ પ્રદાન કરે છે.

આ બેઝપ્લેટ્સની તપાસ કરવા માટે ઇલેક્ટ્રોનિક સ્તરનો ઉપયોગ કરતી વખતે, મુખ્ય પ્રક્રિયાગત ધ્યાન સંકળાયેલ પુલ (અથવા માપન ફિક્સ્ચર) માટે યોગ્ય સ્પાન લંબાઈ નક્કી કરવાનું છે, જે પરીક્ષણ કરવામાં આવી રહેલી પ્લેટના એકંદર કદ પર આધારિત છે. મહત્વપૂર્ણ રીતે, સમગ્ર પરીક્ષણ પ્રક્રિયા દરમિયાન, આ પુલની હિલચાલ સખત રીતે એકબીજા સાથે જોડાયેલી અને ઓવરલેપિંગ હોવી જોઈએ. આ ઝીણવટભરી, પગલું-દર-પગલાની સર્વેક્ષણ પદ્ધતિ - જ્યાં દરેક અનુગામી માપન બિંદુ પાછલા એક સાથે જોડાય છે - એ પ્રાથમિક પરિબળ છે જે ખાતરી કરે છે કે અંતિમ ગણતરી કરેલ સપાટતા મૂલ્ય શક્ય તેટલું વાસ્તવિક સપાટીની ભૂગોળની નજીક છે.

નિષ્કર્ષ

પરંપરાગત બબલ લેવલથી અત્યાધુનિક ઇલેક્ટ્રોનિક લેવલ સુધીનો વિકાસ ગુણવત્તા નિયંત્રણ અને મેટ્રોલોજીમાં એક મહત્વપૂર્ણ છલાંગ રજૂ કરે છે. મૂળભૂત ભૌતિકશાસ્ત્રનો ઉપયોગ કરીને - પછી ભલે તે ઇન્ડક્શન હોય કે કેપેસીટન્સ - આ સાધનો ચોકસાઇ સાધનોનું પાયાનું સંરેખણ સૌથી સચોટ ધોરણોને પૂર્ણ કરે છે તેની ખાતરી કરવા માટે જરૂરી ડેટા પ્રદાન કરે છે. ચોકસાઈ અને ઉત્પાદન ગુણવત્તા માટે સમર્પિત કોઈપણ સુવિધા માટે, ઇલેક્ટ્રોનિક લેવલને સમજવું અને અમલમાં મૂકવું એ ફક્ત શ્રેષ્ઠ પ્રથા નથી; તે સ્પર્ધાત્મક ધાર જાળવવા માટે એક મૂળભૂત આવશ્યકતા છે.